ИФХЭ РАН

Структура Научные подразделения Центр коллективного пользования физическими методами исследования

Центр коллективного пользования физическими методами исследования

В 2002 году в институте был создан ЦЕНТР КОЛЛЕКТИВНОГО ПОЛЬЗОВАНИЯ ФИЗИЧЕСКИМИ МЕТОДАМИ ИССЛЕДОВАНИЯ ИФХЭ РАН (ЦКП ФМИ ИФХЭ РАН), позволяющий решать практически любую задачу физико-химического исследования вещества или свойств его поверхности.

Контакты

Научный руководитель ЦКП:
ЦИВАДЗЕ Аслан Юсупович
научный руководитель ИФХЭ РАН, академик РАН

Заместители руководителя ЦКП:
БИРИН Кирилл Петрович
ведущий научный сотрудник ИФХЭ РАН, д.х.н.
e-mail: Адрес электронной почты защищен от спам-ботов. Для просмотра адреса в вашем браузере должен быть включен Javascript.

ШИРЯЕВ Андрей Альбертович
главный научный сотрудник ИФХЭ РАН, д.х.н.
e-mail: Адрес электронной почты защищен от спам-ботов. Для просмотра адреса в вашем браузере должен быть включен Javascript.
Телефон: +7(495) 955 46 64


Адрес:
г. Москва, Ленинский проспект, д. 31, корп. 4, ИФХЭ РАН

 

Заявка на исследования


Заявка на исследования должна содержать:

  1. ФИО и контактные данные заказчика.

  2. Грант, контракт или договор, в рамках которого выполняется исследование.

  3. Перечень передаваемых образцов, сопровождаемых данной заявкой.

  4. Параметры, релевантные передаваемым образцам и методам исследования, например:

    • Температура измерения
    • Необходимость инертной атмосферы
    • Диапазон измеряемых углов
    • Интервал температур и скорость нагрева
    • Примерный состав образцов
    • Растворимость
    • Устойчивость

    В случае отсутствия требований, критичных для выполнения исследования, они могут быть запрошены дополнительно или приняты на усмотрение оператора.

  5. Факторы опасности образца для исполнителя и прибора:

    • Состав
    • Нестабильность образца
    • Токсичность
    • Биологическая опасность
    • Другая возможная опасность

    Если образцы стабильны и не имеют факторов опасности, это также должно быть отмечено в заявке.

  6. Любая дополнительная информация по усмотрению заказчика.

  7. Подпись заказчика. Заявка должна быть подписана заказчиком, и её оригинал должен быть передан вместе с образцами.

Правила подачи образцов


Требования к образцам

  1. Отдельные образцы для каждого типа исследования. Для каждого вида исследования необходимо предоставлять отдельный образец. Это позволит загружать исполнителей работой параллельно. Например, если для одного и того же вещества требуется СЭМ, РФЭС и ТГА, должно быть предоставлено три одинаковых порции вещества. Также стоит отметить, что по результатам прошлого года количество предоставляемых образцов в большинстве случаев было заведомо избыточным.

  2. Уникальный шифр для веществ. Каждое вещество, передаваемое на исследования, должно иметь уникальный буквенно-числовой шифр, который не повторяется в течение года. Шифром не могут быть название, брутто-формула, ожидаемый состав и тому подобное. Идеальным вариантом является сочетание латинских инициалов заказчика и номера образца с последовательной нумерацией в течение года, например, KB027, KSh225, R32 и т. д.

  3. Упаковка образцов. Сухие порошки и образцы материалов могут передаваться в любой упаковке, исключающей их повреждение и утрату – одноразовые зип-пакеты, микропробирки типа Эппендорф. Жидкие образцы веществ и растворы должны передаваться в герметичных виалах; использование пробирок типа Эппендорф категорически не рекомендуется. При использовании таких пластиковых микропробирок не гарантируется сохранность образца и выполнение заказа.


Примечание

Заявка подается в произвольной форме на конкретный вид исследования. Если одновременно передаются образцы на несколько видов исследований, их должно сопровождать соответствующее количество заявок. Это необходимо для удобства взаимодействия с непосредственным исполнителем.

Перечень методик

science iconsИсследование строения органических соединений методом ЯМР высокого разрешения

science iconsИзучение колебательных спектров (инфракрасная и рамановская спектроскопия и микроскопия)

science iconsСпектроскопия поглощения в широком спектральном диапазоне

science iconsФотолюминесцентная спектроскопия

science iconsИсследование строения соединений методом рентгеновской порошковой и монокристальной дифрактометрии и малоуглового рассеяния

science iconsИзмерение активности и радионуклидного состава

science iconsИзучение топографии поверхности материалов методом зондовой микроскопии

science iconsТермоанализ

science iconsИсследование элементного состава веществ методом ICP-MS

 

 

science iconsИзучение распределения наночастиц по размерам методом динамического светорассеяния

science iconsОблучение и стерилизация электронами

science iconsИзучение строения органических органических и металл-органических соединений методами MALDI, хроматомасс-спектрометрии высокого разрешения и хроматографии

science iconsИзучение состава и поверхности образцов методом растровой электронной микроскопии

science iconsМеханические испытания (разрывные машины, износостойкость)

science iconsОбработка материалов на Стационарном комплексе лазерной обработки

science iconsИсследования наводороживания и кинетики обезводороживания при нагреве

science iconsРентгенофлюоресцентное картирование

science iconsИсследования в климатической камере

 

Оборудование ЦКП

Ядерно-магнитный спектрометр Avance
III 600 (2008 г.в.)

Рентгеновский монокристальный
дифрактометр Kappa Apex II (2007 г.в.) с
системой охлаждения образца.

Рентгеновский порошковый
дифрактометр исследовательского класса
(2010 г.в.) с монохроматорами,
различными держателями образца. Печь
позволяет проводить in situ исследования
при температурах от комнатной до 1200
С в вакууме, на воздухе и в инертной
атмосфере. Мо и Cu трубки.

Компактный рентгеновский порошковый

дифрактометр Aeris (2018 г.в.) с
двумерным детектором

Рентгеновский малоугловой
дифрактометр (2009 г.в.)

Рентгенофлюоресцентный микроскоп

Растровый электронный микроскоп с
автоэмиссионным катодом QUANTA 650
FEG (2012 г.в.)

Анализатор размеров частиц Zetasizer 
Nano ZS Malvern (2007 г.в.)

Инфракрасные Фурье-спектрометры с
приставками для диффузного рассеяния,
НПВО (Spectrum 2000),
ИК-микроскоп (2014 г.в.)
Рамановские микроспектрометры
(Senterra Bruker, 2008 г.в.; inVia Reflex
Renishaw, 2019 г.в.) Лазеры 405, 638, 532 и 785 нм,

микроскопия.

УФ Спектрофотометры Shimadzu UV-
3101PC (2012 г.в.), Shimadzu UV-3600
(2020 г.в.) и спектрометры более низкого
класса. 190-3200 нм, система охлаждения

Масс-спектрометрический комплекс
Daltonics Ultraflex (2005 г.в.) MALDI

Хромато-масс-спектрометр высокого
разрешения Maxis Impact
Жидкостные хроматографы Agilent 
1260Infinity

Система синхронного термического
анализа модели STA 449 F3 Jupiter (2020
г.в.) Т до 1600 С

Многомодульная система для
термического анализа ТА 5000 (2006 г.в.) 
Диапазон температур до 1500 С;
совмещение с ИК спектрометром.

Разрывная машина BissNano25 (2020 г.в.)
Спектрофлуориметр Fluorolog 22 (2013
г.в.)


Микроскоп высоковакуумный

сканирующий зондовый Enviroscope
(2009 г.в.)
19 Сканирующий зондовый микроскоп
Solver Pro (Компания NT-MDT)

Ротационный абразиметр Taber Abraser
Исследования на износостойкость
широкого спектра твердых материалов и
покрытий: металлы, сплавы, пластмассы,
краски, лаки, ткани, резины и т.п.

 ICP-MS спектрометр Agilent7500с (2010
г.в.)

Линейный ускоритель электронов LINS-
02-500 EURF (2013 г.в.)

Импульсно-периодический ускоритель

электронов УРТ-1М (2010 г.в.)

Радиационно-технологическая установка
"Электронно-лучевой стерилизатор ЭЛС-
2" с ускорителем УЭЛВ-10-10-С-70. 
Энергия электронов 10 МэВ, мощность 
пучка 15 кВт, ток пучка до 1500 мкА

Установка вакуумной экстракции
водорода. Вакуум до 5·10 -5 мм.рт.ст. 
Отделение водорода от других газовых 
примесей

Установка для измерения углов
смачивания и скатывания,
поверхностного натяжения методом
цифровой обработки изображения
сидящих и/или висящих капель
Климатическая камера Биндер МК53
Стационарный комплекс лазерной
обработки с иттербиевым
оптоволоконным наносекундным лазером
Термомеханический анализатор TMA Q-
400EM (200
ТГА-ДСК анализатор Q600
Дифференциальный сканирующий
калориметр DSC Q100
Динамический механический анализатор
DMA Q800 фирмы TA Instruments (2008)
Лабораторный цифровой гамма-
спектрометрический комплекс
(AMETEC) (2012 г.в.)
Автоматический
жидкосцинтилляционный низкофоновый
альфа-бета-спектрометр Tri-Carb 3180TR/SL
с активной защитой для измерения
сверхмалых количеств альфа и бета излучателей
(2012 г.в.)
Трехкамерный альфа-спектрометр
ALPHA-ARIA (ORTEC) (2007 г.в.)
Сканер PerkinElmer CyclonePlus для
авторадиографических исследований
(2009 г.в.). Пространственное разрешение пластин – 42 микрона

 

icons8 pdf 96СПИСОК ОБОРУДОВАНИЯ

Новостная рассылка

Чтобы быть в центре событий, присоединяйтесь к нашим новостям.

Наши контакты

Вы можете задать интересующий вопрос, удобным для Вас способом.

  • Тел.: +7 495 955 44 87

Поиск