Центр коллективного пользования физическими методами исследования

В 2002 году в институте был создан ЦЕНТР КОЛЛЕКТИВНОГО ПОЛЬЗОВАНИЯ ФИЗИЧЕСКИМИ МЕТОДАМИ ИССЛЕДОВАНИЯ ИФХЭ РАН (ЦКП ФМИ ИФХЭ РАН), позволяющий решать практически любую задачу физико-химического исследования вещества или свойств его поверхности.

Информация

• ПРИКАЗ № 47 от 20.03.2012 о введении в действие положения и ПОЛОЖЕНИЕ о Центре коллективного пользования физическими методами исследования (ЦКП ФМИ ИФХЭ РАН)

• ПЕРЕЧЕНЬ основных предоставляемых УСЛУГ и их СТОИМОСТЬ

• ПОРЯДОК ДОСТУПА к оборудованию ЦКП ФМИ ИФХЭ РАН

• ДОГОВОР на выполнение научно-исследовательских работ

• ЗАГРУЗКА ЦКП

• ПЛАН РАБОТЫ ЦКП формируется на основе поступающих заявок

Контакты

Научный руководитель ЦКП:
ЦИВАДЗЕ Аслан Юсупович
научный руководитель ИФХЭ РАН, академик РАН

Заместители руководителя ЦКП:
БИРИН Кирилл Петрович
ведущий научный сотрудник ИФХЭ РАН, д.х.н.
e-mail: Адрес электронной почты защищен от спам-ботов. Для просмотра адреса в вашем браузере должен быть включен Javascript.

ШИРЯЕВ Андрей Альбертович
главный научный сотрудник ИФХЭ РАН, д.х.н.
e-mail: Адрес электронной почты защищен от спам-ботов. Для просмотра адреса в вашем браузере должен быть включен Javascript.
Телефон: +7(495) 955 46 64

Адрес: г. Москва, Ленинский проспект, д. 31, корп. 4, ИФХЭ РАН

Заявка на исследования

Заявка на исследования должна содержать:

ФИО и контактные данные заказчика.
Грант, контракт или договор, в рамках которого выполняется исследование.
Перечень передаваемых образцов, сопровождаемых данной заявкой.
Параметры, релевантные передаваемым образцам и методам исследования, например:
- Температура измерения
- Необходимость инертной атмосферы
- Диапазон измеряемых углов
- Интервал температур и скорость нагрева
- Примерный состав образцов
- Растворимость
- Устойчивость
В случае отсутствия требований, критичных для выполнения исследования, они могут быть запрошены дополнительно или приняты на усмотрение оператора.
Факторы опасности образца для исполнителя и прибора:
- Состав
- Нестабильность образца
- Токсичность
- Биологическая опасность
- Другая возможная опасность
Если образцы стабильны и не имеют факторов опасности, это также должно быть отмечено в заявке.
Любая дополнительная информация по усмотрению заказчика.
Подпись заказчика. Заявка должна быть подписана заказчиком, и её оригинал должен быть передан вместе с образцами.

Правила подачи образцов

Требования к образцам

Отдельные образцы для каждого типа исследования. Для каждого вида исследования необходимо предоставлять отдельный образец. Это позволит загружать исполнителей работой параллельно. Например, если для одного и того же вещества требуется СЭМ, РФЭС и ТГА, должно быть предоставлено три одинаковых порции вещества. Также стоит отметить, что по результатам прошлого года количество предоставляемых образцов в большинстве случаев было заведомо избыточным.
Уникальный шифр для веществ. Каждое вещество, передаваемое на исследования, должно иметь уникальный буквенно-числовой шифр, который не повторяется в течение года. Шифром не могут быть название, брутто-формула, ожидаемый состав и тому подобное. Идеальным вариантом является сочетание латинских инициалов заказчика и номера образца с последовательной нумерацией в течение года, например, KB027, KSh225, R32 и т. д.
Упаковка образцов. Сухие порошки и образцы материалов могут передаваться в любой упаковке, исключающей их повреждение и утрату – одноразовые зип-пакеты, микропробирки типа Эппендорф. Жидкие образцы веществ и растворы должны передаваться в герметичных виалах; использование пробирок типа Эппендорф категорически не рекомендуется. При использовании таких пластиковых микропробирок не гарантируется сохранность образца и выполнение заказа.

Примечание

Заявка подается в произвольной форме на конкретный вид исследования. Если одновременно передаются образцы на несколько видов исследований, их должно сопровождать соответствующее количество заявок. Это необходимо для удобства взаимодействия с непосредственным исполнителем.

Перечень методик

Исследование строения органических соединений методом ЯМР высокого разрешения

Изучение колебательных спектров (инфракрасная и рамановская спектроскопия и микроскопия)

Спектроскопия поглощения в широком спектральном диапазоне

Фотолюминесцентная спектроскопия

Исследование строения соединений методом рентгеновской порошковой и монокристальной дифрактометрии и малоуглового рассеяния

Измерение активности и радионуклидного состава

Изучение топографии поверхности материалов методом зондовой микроскопии

Термоанализ

Исследование элементного состава веществ методом ICP-MS

Изучение распределения наночастиц по размерам методом динамического светорассеяния

Облучение и стерилизация электронами

Изучение строения органических органических и металл-органических соединений методами MALDI, хроматомасс-спектрометрии высокого разрешения и хроматографии

Изучение состава и поверхности образцов методом растровой электронной микроскопии

Механические испытания (разрывные машины, износостойкость)

Обработка материалов на Стационарном комплексе лазерной обработки

Исследования наводороживания и кинетики обезводороживания при нагреве

Рентгенофлюоресцентное картирование

Исследования в климатической камере

Оборудование ЦКП

Ядерно-магнитный спектрометр Avance
III 600 (2008 г.в.)

Рентгеновский монокристальный
дифрактометр Kappa Apex II (2007 г.в.) с
системой охлаждения образца.

Рентгеновский порошковый
дифрактометр исследовательского класса
(2010 г.в.) с монохроматорами,
различными держателями образца. Печь
позволяет проводить in situ исследования
при температурах от комнатной до 1200
С в вакууме, на воздухе и в инертной
атмосфере. Мо и Cu трубки.

Компактный рентгеновский порошковый

дифрактометр Aeris (2018 г.в.) с
двумерным детектором

Рентгеновский малоугловой
дифрактометр (2009 г.в.)

Рентгенофлюоресцентный микроскоп

Растровый электронный микроскоп с
автоэмиссионным катодом QUANTA 650
FEG (2012 г.в.)

Анализатор размеров частиц Zetasizer
Nano ZS Malvern (2007 г.в.)

Инфракрасные Фурье-спектрометры с
приставками для диффузного рассеяния,
НПВО (Spectrum 2000),
ИК-микроскоп (2014 г.в.)
Рамановские микроспектрометры
(Senterra Bruker, 2008 г.в.; inVia Reflex
Renishaw, 2019 г.в.) Лазеры 405, 638, 532 и 785 нм,

микроскопия.

УФ Спектрофотометры Shimadzu UV-
3101PC (2012 г.в.), Shimadzu UV-3600
(2020 г.в.) и спектрометры более низкого
класса. 190-3200 нм, система охлаждения

Масс-спектрометрический комплекс
Daltonics Ultraflex (2005 г.в.) MALDI

Хромато-масс-спектрометр высокого
разрешения Maxis Impact
Жидкостные хроматографы Agilent
1260Infinity

Система синхронного термического
анализа модели STA 449 F3 Jupiter (2020
г.в.) Т до 1600 С

Многомодульная система для
термического анализа ТА 5000 (2006 г.в.)
Диапазон температур до 1500 С;
совмещение с ИК спектрометром.

Разрывная машина BissNano25 (2020 г.в.)
Спектрофлуориметр Fluorolog 22 (2013
г.в.)

Микроскоп высоковакуумный

сканирующий зондовый Enviroscope
(2009 г.в.)
19 Сканирующий зондовый микроскоп
Solver Pro (Компания NT-MDT)

Ротационный абразиметр Taber Abraser
Исследования на износостойкость
широкого спектра твердых материалов и
покрытий: металлы, сплавы, пластмассы,
краски, лаки, ткани, резины и т.п.

ICP-MS спектрометр Agilent7500с (2010
г.в.)

Линейный ускоритель электронов LINS-
02-500 EURF (2013 г.в.)

Импульсно-периодический ускоритель

электронов УРТ-1М (2010 г.в.)

Радиационно-технологическая установка
"Электронно-лучевой стерилизатор ЭЛС-
2" с ускорителем УЭЛВ-10-10-С-70.
Энергия электронов 10 МэВ, мощность
пучка 15 кВт, ток пучка до 1500 мкА

Установка вакуумной экстракции
водорода. Вакуум до 5·10 -5 мм.рт.ст.
Отделение водорода от других газовых
примесей

Установка для измерения углов
смачивания и скатывания,
поверхностного натяжения методом
цифровой обработки изображения
сидящих и/или висящих капель
Климатическая камера Биндер МК53
Стационарный комплекс лазерной
обработки с иттербиевым
оптоволоконным наносекундным лазером
Термомеханический анализатор TMA Q-
400EM (200
ТГА-ДСК анализатор Q600
Дифференциальный сканирующий
калориметр DSC Q100
Динамический механический анализатор
DMA Q800 фирмы TA Instruments (2008)
Лабораторный цифровой гамма-
спектрометрический комплекс
(AMETEC) (2012 г.в.)
Автоматический
жидкосцинтилляционный низкофоновый
альфа-бета-спектрометр Tri-Carb 3180TR/SL
с активной защитой для измерения
сверхмалых количеств альфа и бета излучателей
(2012 г.в.)
Трехкамерный альфа-спектрометр
ALPHA-ARIA (ORTEC) (2007 г.в.)
Сканер PerkinElmer CyclonePlus для
авторадиографических исследований
(2009 г.в.). Пространственное разрешение пластин – 42 микрона

СПИСОК ОБОРУДОВАНИЯ

Подкатегории

Загрузка оборудования ЦКП ФМИ ИФХЭ РАН

ИФХЭ РАН